SMT مكتب أوتوماتيكي غير متصل SAKI BF Comet10 آلة AOI

آلة BF Comet10 AOI عبارة عن نظام فحص بصري آلي متقدم (AOI) يستخدم في صناعة الإلكترونيات لفحص ومراقبة جودة لوحات الدوائر المطبوعة (PCBs) أثناء عملية التجميع. إنه يوفر مجموعة من الوظائف والميزات التي تعزز دقة الفحص وسرعته وكفاءته.

1. القرار: 10um، 18um
2. حجم ثنائي الفينيل متعدد الكلور: 250 مم × 330 مم
3. تقنية مسح الخطوط البديلة الأصلية من SAKI والتي توفر أسرع سرعة فحص
4. يتيح نظام التقاط الألوان المطور حديثًا تحقيق فحص سريع إضافي مقارنة بالنموذج التقليدي (BF18D-P40). (يستغرق الأمر 7 ثوانٍ فقط لمسح PCB بحجم M بواسطة BF-Comet18)
5. تم تطوير BF-Comet10 الذي يتمتع بدقة 10 ميكرون لفحص ثنائي الفينيل متعدد الكلور عالي الكثافة (شريحة 01005 ورصاص الملعب 0.4 مم)
6. تقدم BF-Comet نظامًا مدمجًا للطباعة على سطح الطاولة وهو مناسب أيضًا لفحص أجزاء التثبيت بعد عملية إدخال اليد وفحص جزء الغمس.

1. الفحص البصري: تستخدم آلة BF Comet10 AOI كاميرات عالية الدقة وخوارزميات تصوير متقدمة لفحص مركبات ثنائي الفينيل متعدد الكلور بحثًا عن العيوب والشذوذات. فهو يلتقط صورًا تفصيلية لسطح PCB ومكوناته، مما يسمح بإجراء فحص شامل لوصلات اللحام، ووضع المكونات، والقطبية، ومعايير الجودة الأخرى. تضمن هذه الميزة اكتشاف العيوب بشكل شامل وتقلل من مخاطر التجميعات الخاطئة.
2. اكتشاف العيوب: الجهاز مزود بخوارزميات قوية لاكتشاف العيوب. يمكنه تحديد أنواع مختلفة من العيوب، بما في ذلك مشكلات اللحام (مثل عدم كفاية اللحام أو الجسور أو شواهد القبور)، وعدم محاذاة المكونات، والمكونات المفقودة، وأخطاء القطبية، وعيوب قناع اللحام. تتيح هذه القدرة تحديد عيوب التصنيع بكفاءة وموثوقية.
3. سرعة الفحص: توفر آلة BF Comet10 AOI إمكانات فحص عالية السرعة. يمكنه مسح وتحليل مركبات ثنائي الفينيل متعدد الكلور بسرعة، مما يضمن الحصول على ردود فعل سريعة حول جودة اللوحات المجمعة. تساهم هذه الميزة في تقليل أوقات دورة الإنتاج والاستجابة بشكل أسرع لمشكلات التصنيع.
4. البرمجة والتخصيص: تسمح الآلة ببرمجة وتخصيص معلمات الفحص. يمكن للمشغلين تحديد معايير التفتيش والعتبات والقواعد الخاصة بتصميمات ثنائي الفينيل متعدد الكلور ومتطلبات الجودة الخاصة بهم. تتيح هذه المرونة عمليات فحص مصممة خصيصًا والقدرة على التكيف مع أشكال المنتجات المختلفة أو مواصفات العملاء.
5. تقليل الإنذارات الكاذبة: تستخدم آلة BF Comet10 AOI خوارزميات متقدمة وتقنيات التعلم الآلي لتقليل الإنذارات الكاذبة. ويمكنه التمييز بين ميزات التصميم المتعمد، مثل علامات المكونات أو العلامات الاعتمادية، والعيوب الفعلية، مما يقلل من النتائج الإيجابية الكاذبة أثناء الفحص. تعمل هذه الإمكانية على تحسين كفاءة الفحص بشكل عام وتقليل عمليات إعادة العمل غير الضرورية.
6. تحليل بيانات الفحص: توفر الآلة إمكانيات تحليل بيانات الفحص الشاملة. فهو يلتقط نتائج الفحص ويخزنها، مما يسمح للمشغلين بتحليل الاتجاهات وتحديد المشكلات المتكررة وإجراء تحسينات على العمليات تعتمد على البيانات. قد تتضمن أدوات التحليل تقارير إحصائية وتصنيف العيوب وتصور نتائج الفحص.

يتم استخدام آلة BF Comet10 AOI في العديد من التطبيقات داخل صناعة تصنيع الإلكترونيات، بما في ذلك:

1. مراقبة جودة ثنائي الفينيل متعدد الكلور: إنه بمثابة أداة حاسمة لمراقبة جودة ثنائي الفينيل متعدد الكلور أثناء عملية التجميع. تقوم الآلة بفحص مركبات ثنائي الفينيل متعدد الكلور بحثًا عن العيوب، والتأكد من استيفائها لمعايير الجودة المحددة قبل الانتقال إلى مراحل التصنيع التالية.
2. التحقق من العيوب: يتم استخدام جهاز BF Comet10 AOI للتحقق من العيوب والتحقق من صحتها. فهو يتحقق من وجود وجودة وصلات اللحام، ووضع المكونات، وميزات التجميع الهامة الأخرى، مما يضمن الامتثال لمواصفات التصميم ومعايير الصناعة.
3. تحسين العملية: تساعد الآلة في مبادرات تحسين العملية. ومن خلال تحليل بيانات الفحص وتحديد العيوب أو الاتجاهات المتكررة، يمكن للمشغلين اتخاذ قرارات مستنيرة لتحسين عمليات التجميع، وتعزيز كفاءة التصنيع، وتقليل معدلات العيوب.
4. إعادة العمل والإصلاح: تساعد آلة BF Comet10 AOI في عمليات إعادة العمل والإصلاح. عند اكتشاف العيوب، يمكن للمشغلين استخدام بيانات الفحص لتحديد المشكلات المحددة ومعالجتها بدقة، مما يسهل إعادة العمل بكفاءة ويقلل من الخردة أو حالات الرفض.
5. ضمان الجودة: تلعب الآلة دورًا حيويًا في عمليات ضمان الجودة. فهو يساعد المصنعين على التأكد من أن مجموعات ثنائي الفينيل متعدد الكلور الخاصة بهم تلبي متطلبات العملاء، ومعايير الصناعة، والامتثال التنظيمي، مما يعزز جودة المنتج وموثوقيته بشكل عام.

توفر آلة BF Comet10 AOI إمكانيات فحص بصري متقدمة لمراقبة جودة ثنائي الفينيل متعدد الكلور. فهو يتيح الكشف الدقيق عن العيوب، والفحص عالي السرعة، وتحسين العمليات المستندة إلى البيانات، مما يساهم في عمليات تصنيع الإلكترونيات الفعالة والموثوقة.